La medición como substrato del fenómeno arquitectural
| dc.contributor.author | Borchers F., Juan | |
| dc.coverage.spatial | Santiago | es_ES |
| dc.date.accessioned | 2021-03-26T13:14:09Z | |
| dc.date.available | 2021-03-26T13:14:09Z | |
| dc.date.created | 1969-1972 | |
| dc.identifier.other | FJB - D0398 | |
| dc.identifier.uri | https://archivospatrimoniales.uc.cl/handle/123456789/44241 | |
| dc.description.abstract | Texto a máquina en francés del artículo “La mesure comme substratum du phenomene architectural. Avec des quantitès produire des qualitès”, con fecha 1972. Contiene además fotocopia del texto del artículo en español aparecido en la revista “Hogar y Arquitectura”, con fecha 1969. | |
| dc.format.extent | 62 hojas carta / hojas oficio | |
| dc.relation.ispartof | Archivo de Originales FADEU | es_ES |
| dc.relation.ispartofseries | Fondo Documental Juan Borchers F. (FJB) | es_ES |
| dc.title | La medición como substrato del fenómeno arquitectural | |
| dc.type | Documento | |
| dc.fuente.origen | FADEU |
