Concurso Centro de Tecnología Electrónica y Control de Calidad (CETEC)

dc.contributor.author	Carolis, Pablo de
dc.contributor.author	Berdichevsky, Jaime
dc.contributor.author	Pelegrini, Raúl
dc.coverage.spatial	Arica. l Región	es_ES
dc.date.accessioned	2018-10-17T13:59:06Z
dc.date.available	2018-10-17T13:59:06Z
dc.date.created	1972
dc.identifier.other	AV - 0051.01	es_ES
dc.identifier.uri	https://archivospatrimoniales.uc.cl/handle/123456789/779
dc.description.abstract	Planos copia de: Elevaciones norte y sur - Elevación y corte panel armado - Cortes AA y BB - Corte típico fábrica - Corte y elevaciones taller - Elevaciones biblioteca. Nota: Algunas láminas con sobre escritura.	es_ES
dc.format.extent	Pliego	es_ES
dc.language.iso	es	es_ES
dc.relation.ispartof	Archivo de Originales FADEU	es_ES
dc.relation.ispartofseries	Archivo Vertical (AV)	es_ES
dc.title	Concurso Centro de Tecnología Electrónica y Control de Calidad (CETEC)	es_ES
dc.type	Plano	es_ES
dc.nota	Proyecto ganador	es_ES
dc.fuente.origen	FADEU