Concurso de Anteproyectos CENTRO DE TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA Y CONTROL DE CALIDAD (CETEC)

Titulo:	Concurso de Anteproyectos CENTRO DE TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA Y CONTROL DE CALIDAD (CETEC)
Autor:	Aguirre Silva, Jorge;
Resumen:	Planos originales de: Planta general de conjunto - Fachadas y cortes - Planta 2o p. - Planta 1o p. - Perspectiva isométrica. Plano copia de: Planta general de conjunto.
Colección:	Archivo de Originales FADEU
Serie:	Fondo Documental Jorge Aguirre S. (FJA)
Identificador:	FJA - PLr243-0172
Cita:	Aguirre Silva, Jorge. Concurso de Anteproyectos CENTRO DE TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA Y CONTROL DE CALIDAD (CETEC). [Plano]. Archivo de Originales FADEU, Pontificia Universidad Católica de Chile.

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