Concurso de Anteproyectos CENTRO DE TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA Y CONTROL DE CALIDAD (CETEC)

dc.contributor.author	Aguirre Silva, Jorge
dc.coverage.spatial	Arica. l Región	es_ES
dc.date.accessioned	2021-03-17T15:30:27Z
dc.date.available	2021-03-17T15:30:27Z
dc.identifier.other	FJA - PLr243-0172
dc.identifier.uri	https://archivospatrimoniales.uc.cl/handle/123456789/43034
dc.description.abstract	Planos originales de: Planta general de conjunto - Fachadas y cortes - Planta 2o p. - Planta 1o p. - Perspectiva isométrica. Plano copia de: Planta general de conjunto.
dc.format.extent	6 / Pliego
dc.relation.ispartof	Archivo de Originales FADEU	es_ES
dc.relation.ispartofseries	Fondo Documental Jorge Aguirre S. (FJA)	es_ES
dc.title	Concurso de Anteproyectos CENTRO DE TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA Y CONTROL DE CALIDAD (CETEC)
dc.type	Plano
dc.conservacion.estado	Algunos bordes deteriorados; marcas de cinta adhesiva
dc.fuente.origen	FADEU
dc.information.autoruc	Escuela de arquitectura ; Aguirre Silva, Jorge ; S/I ; 62426
sipa.codpersvinculados	62426